试验过程是以常温→低温→低温停留→高温→高温停留→常温作为一个循环,温度循环试验的严苛程度是以高/低温度范围、停留时间以及循环数来决定的。
电子通信类:手机、射频器、电子通信元器件等;
温度冲击试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
将被测试产品(元器件、组件、部件或整机)置入高低温试验箱进行试验时,为了保证其测试产品周围气氛能满足试验规范所规定的环境试验条件,高低温试验箱工作尺寸与被测试产品外廓尺寸之间应遵循以下几点规则:
1.被测试产品的体积(W×D×H)不得**过试验箱有效工作空间的20~35%。对于在试验中发热的产品推荐选用不大于10%
2.被测试产品的迎风断面积与该断面上试验箱工作室总面积之比不大于35~50%。
3.被测试产品外廓表面距试验箱壁的距离至少保持100~150。
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